手机壳冷热冲击试验机

手机壳冷热冲击试验机 壹叁伍 叁捌肆陆 玖零柒陆 又称高低温冲击试验箱，是专业用于LED老化试验和耐高低温试验的设备。在国内，勤上光电，雷士照明等一大批LED光电企业，均有订购该系列试验箱做测试。

冷热冲击试验机型号规格：

型号 TS-80  内形尺寸D×W×H  400×400×500

型号TS -225  内形尺寸D×W×H  500×600×750

型号TS -500  内形尺寸D×W×H  700×800×900

型号TS -800  内形尺寸D×W×H  800×1000×1000

型号TS -1000 内形尺寸D×W×H  1000×1000×1000

冷热冲击试验机温度变化率：

1槽法：大于30℃/分钟 (空气)

2槽法：大于50℃/分钟 (空气)

1槽法：小于15℃/分钟 (试样)

1槽法：小于20℃/分钟 (空气)

加速系数：100～500倍

比加速试验加速系数小 10～20倍

试验结果：设计信息   生产品质差异验证

冷热冲击试验机技术指标：

试验方法：温度冲击试验 温度循环试验

试验环境：比使用环境更严酷 极限使用环境

试样：零部件 元器件，焊点(BGA，CSP) 成品

试样尺寸：小比较大

试验温度范围：-40(-55)～125(150)℃、 -40(-65)～125(150)℃、 -40(-0)～100℃

目的：加速应力试验 加速寿命试验 环境应力筛选试验(ESS)

冷热冲击试验机温度冲击试验：

1、升温/降温速率不低于30℃/分钟。温度变化范围很大，同时试验严酷度还随着温度变化率的增加而增加。

2、温度冲击试验与温度循环试验的差异主要是应力负荷机理不同。温度冲击试验主要考察由于蠕变及疲劳损伤引起的失效，而温度循环主要考察由于剪切疲劳引起的失效。

3、温度冲击试验容许使用二槽式试验装置；温度循环试验使用单槽式试验装置。在二槽式箱体内，温度变化率要大于50℃/分钟。

4、引起温度冲击的原因：回流焊，干燥，再加工，修理等制造、修理工艺中剧烈的温度变化。

5、加速应力试验：加速试验是使用比在实际环境中更短的时间，对试验样品进行的加速试验，以考察其失效机理。试验的加速就是采用加大应力的方法促使试验样品在短期内失效，。但是须注意避免其它应力原因引起的失效机理。

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